絕緣電阻功能超強(qiáng)干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理一、使用說明
1.1、主菜單
打開電源開關(guān)，進(jìn)入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)的測(cè)試選項(xiàng)進(jìn)行測(cè)量。
※ 注： 儀器啟動(dòng)測(cè)試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī)，不要按復(fù)位。
1.2、一般測(cè)試
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“一般測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等一般測(cè)試菜單（如圖5—2）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—3）進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。
分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面。
相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單，進(jìn)入測(cè)試菜單。測(cè)試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開始測(cè)試。開始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的測(cè)試頻率自動(dòng)變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—4）；測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。
注 意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。
絕緣電阻功能超強(qiáng)干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理1.3、CVT測(cè)試
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點(diǎn)擊主界面“CVT測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等CVT測(cè)試菜單（如圖5—5）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測(cè)試界面。
相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單，進(jìn)入測(cè)試菜單（如圖5—7）。測(cè)試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開始測(cè)試。開始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動(dòng)變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—8）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。
注 意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。
絕緣電阻功能超強(qiáng)干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理1.4、CVT變比測(cè)試
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入CVT測(cè)試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測(cè)試”，然后返回開始測(cè)試界面（如圖5—9），長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開始測(cè)量（如圖5—10），測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—11）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。
絕緣電阻功能超強(qiáng)干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理1.5、正反同測(cè)
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入正反同測(cè)菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測(cè)試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開始測(cè)量，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—13）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。
1.6、LCR測(cè)試
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等LCR測(cè)試菜單。
然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面。長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開始測(cè)量，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—14）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。
絕緣電阻功能超強(qiáng)干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理1.7、絕緣測(cè)試
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等絕緣測(cè)試菜單。然后可選擇測(cè)試方式為正接法或反接法，選擇合適的測(cè)試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測(cè)試。
1.8、數(shù)據(jù)查詢
在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動(dòng)光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測(cè)量時(shí)間的先后所排列的，第000個(gè)數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個(gè)數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁(yè)至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號(hào)上，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。
1.9、參數(shù)設(shè)置
打開儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時(shí)間設(shè)置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單（如圖5—18）后，點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時(shí)” 、“分” 、“秒” ，*后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設(shè)置，點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面。
※ 注：
所有圖片并非實(shí)物的全部描敘，請(qǐng)以實(shí)際儀器界面為主，僅做參考。
所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。
二、參考接線
（具體請(qǐng)參閱相關(guān)規(guī)程）
1、正接法
1、內(nèi)電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—正接法（電容常規(guī)接線）
2、內(nèi)電壓—正接法（絕緣電阻接線）
3、內(nèi)電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—正接法（必須先設(shè)置好外接標(biāo)準(zhǔn)容量）
4、外電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—正接法
5、外電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—正接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量）
2、反接法
1、內(nèi)電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—反接法（常規(guī)接線）
2、內(nèi)電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—反接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量）
3、外電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—反接法
4、外電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—反接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量）
3、CVT測(cè)試(注意：CVT測(cè)試時(shí)高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對(duì)地附加介損會(huì)引起誤差。)
1、CVT同時(shí)測(cè)試
（一次完成測(cè)試）
2、CVT分別測(cè)試
（普通測(cè)試）
3、不拆高壓引線測(cè)試CVT電容值和介損測(cè)量模式：CVT自激法。電壓≤ 2kV
4、反接屏蔽法測(cè)量CVT上端C0的電容值和介損測(cè)量模式：反接法。電壓≤2kV
4、CVT變比測(cè)試
5、正反同測(cè)
三繞組變壓器CHG+CHL（高壓線屏蔽接T繞組）
三繞組變壓器CLG+CLT（高壓線屏蔽接HV繞組）
三繞組變壓器CTG+CHT（高壓線屏蔽接LV繞組）
6、電壓互感器
（1）：一次側(cè)對(duì)二次側(cè)
A、接線見圖6-1
B、電壓為2KV
C、正接法
（2）：一次側(cè)對(duì)二次側(cè)及地
A、接線見圖6-2
B、電壓為2KV
C、反接法
（3）：二次側(cè)對(duì)一側(cè)次及地
A、接線見圖6-3
B、電壓為2KV
C、反接法
（4）：末端屏蔽法
A、接線見圖6-4
B、電壓為10KV
正接法
7、電流互感器
（1）：一次側(cè)對(duì)二次側(cè)
A、接線見圖6-5
B、電壓為10KV
C、正接法
（2）：一次側(cè)對(duì)末屏 (常用)
A、接線參考圖6-6
B、電壓為10KV
C、反接法
（3）：一次側(cè)對(duì)二次側(cè)及地
A、接線見圖 6-7
B、電壓為10KV
C、反接法
8、高壓穿墻套管
（1）：芯棒對(duì)末屏 (常用)
A、解開末屏接地
B、接線見圖6-8
C、電壓為10KV
D、正接法
（2）：芯棒對(duì)末屏及地
A、接線見圖6-9
B、電壓為10KV
反接法
9、電力變壓器
（1）：一次繞組對(duì)二次繞組
A、接線見圖6-10
B、電壓為10KV
C、正接法
（2）：一次繞組對(duì)二次繞組及地
A、接線見圖6-11
B、電壓為10KV
C、反接法
（3）：二次繞組對(duì)一次繞組及地
A、接線見圖6-12
B、電壓為10KV
C、反接法
10、絕緣油介損
1.此時(shí)杯體為高壓，注意**;
2.正接法
3.HV用紅色高壓線
4.Cx用黑色測(cè)試線，屏蔽層接油杯地
5.電壓2kV
6.（C高壓）接HV
7.（A測(cè)試）接Cx
8 .（B屏蔽）接地
11、標(biāo)準(zhǔn)電容器，標(biāo)準(zhǔn)介損器
·正接法
1.HV用紅色高壓線連試品高壓
2.Cx用黑色測(cè)試線連試品低壓
3.黑色測(cè)試線的屏蔽層連試品E
·反接法
1.試品高壓接地
2. HV用紅色高壓線連試品低壓
3.紅色高壓線的屏蔽層連試品E
4.Cx懸空
5.桶體已為高壓注意絕緣
注 意：
· 所有連線虛線為電纜屏蔽層，實(shí)線為電纜芯線。
· 請(qǐng)使用出廠時(shí)配套的測(cè)試電纜。儀器測(cè)量電纜通用，但本儀器屬于高精密測(cè)量?jī)x器，測(cè)量時(shí)請(qǐng)盡量使用儀器出廠時(shí)附帶的測(cè)試電纜，否則的話可能因電纜自身的屬性差異而影響測(cè)量結(jié)果的精度。
· 具體每個(gè)接線插座和端子使用何種電纜連接請(qǐng)參考 “面板說明”。
工作原理
在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。
儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。
通過測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。